[1]
А. Букарос, О. Герега, К. Коньков, Т. Обнявко, і Г. Трушков, «Кластерізація елементів електронних схем як частка превентивної діагностики: прогнозування деградації електронного обладнання методами теорії протікання», Вісник ОНМУ, вип. 67, с. 71-80, Груд 2022.